コネクタ欠陥検査装置

中国の一流専門家によって製造された Fuwei コネクタ欠陥検出装置は、最先端の技術を採用して欠陥を細心の注意を払って検出および特定し、最高レベルの製品品質と性能を保証します。メーカーとしてもサプライヤーとしても、当社は厳しい業界基準を満たす優れた製品を提供することに尽力しています。当社の競争力のある価格設定により、品質に妥協することなくアクセスしやすくなっているため、この装置はコネクタ製造プロセスの精度と効率を求める企業にとって貴重な資産となっています。 Fuwei コネクタ欠陥検出装置を使用すると、お客様は比類のない信頼性、精度、価値を期待でき、生産効率を最適化しながら優れた製品品質を維持できるようになります。

検知項目

ピン間隔、GAP値、位置精度、TIP露出、ピン折れ、ピン折れ、変形、キズ、接着剤、異物、キズ、オーバーフロー等

困難

光写真では欠陥を表現するのが難しく、欠陥の種類が多岐にわたり、形状やサイズがさまざまで、発生領域もさまざまであるため、非常に複雑になります。

結果

さまざまなコネクタの欠陥を誤検出率0.1%未満で正確に検出

検出可能な製品

光学イメージング

コネクタの欠陥の多様なタイプ、形状、サイズに対応して、当社はさまざまなタイプのコネクタのイメージングの問題を解決する独自の光学イメージング システムを開発しました。

映像特性の紹介

光源組み合わせ、マルチポジションイメージング

異なる光源を組み合わせて異なる光源下で画像を取得し、アルゴリズムを通じて画像を融合して画像の死角を減らします

1スキャン、多面出力

画像キャプチャの時分割露光をサポートし、1 回のスキャンで検査される複数の完全な画像を出力します。
1回のスキャンで明視野、暗視野、逆光など複数の角度から照明した画像を取得できます。 マルチアングル照明により欠陥検出率が大幅に向上します。